- Title
- Analysis of multilayer substrates by multilayer contribution of wave concept iterative process
- Creators - without role
- El Amjed Hajlaoui - Laboratoire d'Electronique Département de physique Faculté des sciences de Tunis, 2092 El Manar TunisiaHichem Trabelsi - Laboratoire d'Electronique Département de physique Faculté des sciences de Tunis, 2092 El Manar TunisiaHassen Zairi - Laboratoire d'Electronique Département de physique Faculté des sciences de Tunis, 2092 El Manar TunisiaAli Gharsallah - Laboratoire d'Electronique Département de physique Faculté des sciences de Tunis, 2092 El Manar TunisiaHenri Baudrand - Laboratoire d'Electronique, Groupe microonde ENSEEIHT, Toulouse France
- Publication Details
- Microwave and optical technology letters, Vol.49(6), pp.1439-1445
- Publisher
- Wiley Subscription Services, Inc., A Wiley Company
- Number of pages
- 7
- Identifiers
- 9928058808331
- Academic Unit
- Qassim University
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
Journal article
Analysis of multilayer substrates by multilayer contribution of wave concept iterative process
Microwave and optical technology letters, Vol.49(6), pp.1439-1445
06/2007
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