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Digital Holographic Microscopy for Comparative Metrology in Micro-Optics and MOEMs (Digitale holografische Mikroskopie für vergleichende Messungen von mikro-optischen Komponenten und MOEMs)
Journal article   Peer reviewed

Digital Holographic Microscopy for Comparative Metrology in Micro-Optics and MOEMs (Digitale holografische Mikroskopie für vergleichende Messungen von mikro-optischen Komponenten und MOEMs)

Christian Depeursinge, Florian Charrière and Frédéric Montfort
Technisches Messen, Vol.73(3), pp.172-179
01/03/2006

Abstract

digital holography metrology micro-optics

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