- Title
- FTIR and AFM studies of the Ge on Porous Silicon/Si substrate hetero-structure obtained by molecular beam epitaxy
- Creators - without role
- S. Gouder - Dept Elect, LEAR. Mahamdi - Dept Elect, LEAMansour Aouassa - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceS. Escoubas - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceLuc Favre - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceA. Ronda - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de ProvenceIsabelle Berbezier - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
- Publication Details
- Journal of New Technology and Materials, Vol.4(1), pp.112-115
- Publisher
- Université Larbi Ben Mhidi de Oum El Bouaghi
- Identifiers
- 9912474508331
- Academic Unit
- Al Jouf University
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
Journal article
FTIR and AFM studies of the Ge on Porous Silicon/Si substrate hetero-structure obtained by molecular beam epitaxy
Journal of New Technology and Materials, Vol.4(1), pp.112-115
2014
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